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芯片三轮测试仪

更新时间:2024-01-11
厂商性质:生产厂家
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简要描述:芯片三轮测试仪三轮测试仪适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试

  一、芯片三轮测试仪介绍:
 
  UHIC三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试,适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试,将芯片卡放在机器测试滚轮之间,将芯片在三个钢制滚轮间循环测试100次,芯片前方滚动50次,芯片后方滚动50次,循环频率为0.5Hz,并在芯片上加一个8N的力,经过往复循环测试后验证ICC触点芯片功能是否正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准的测试。
 
  二、主要技术参数:
 
  1、三轮测试仪型号:UHICC
 
  2、测试轮循环次数:前后循环各50次
 
  3、测试标准参考: Mcd
 
  4、CQM测试标准参考: P-22
 
  5、测试方法参考: 10.3.22
 
  6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
 
  7、电源: 110-220 V 50/60 Hz.
 
  8、测试厂家:

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